對(duì)于增加的戴爾筆記本內(nèi)存來(lái)說(shuō)，我們有必須對(duì)其進(jìn)行全方位的檢測(cè)，以保證其正常工作。這里我推薦在大家使用DocMem來(lái)檢測(cè)內(nèi)存，我們可以到華軍軟件園下載DocMem1.45a 新版，下載完畢以后，這是一個(gè)自解壓文件，在軟驅(qū)里放一張質(zhì)量較好的空白軟盤，運(yùn)行這個(gè)自解壓文件，程序會(huì)自動(dòng)在將軟盤制成一張啟動(dòng)盤，重新啟動(dòng)系統(tǒng)，在BIOS中設(shè)置為從軟驅(qū)啟動(dòng)，并用這張啟動(dòng)盤來(lái)引導(dǎo)系統(tǒng)就可以自動(dòng)進(jìn)入內(nèi)存檢測(cè)程序了。（針對(duì)目前很多戴爾筆記本上都沒(méi)有軟驅(qū)這一情況，如果戴爾筆記本可以通過(guò)優(yōu)盤來(lái)引導(dǎo)系統(tǒng)，也可以先將優(yōu)盤做成一張啟動(dòng)盤，然后將下載下來(lái)的DocMem1.45a安裝程序用WINZIP或者WINRAR之類的解壓縮軟件解壓到一個(gè)目錄里，將DocMem.exe和Mouse.com拷貝到優(yōu)盤的根目錄下，然后在優(yōu)盤中的新鍵一個(gè)AUTOEXEC.BAT文件，在里面添加上以下內(nèi)容：

　　@echo off

　　mouse > nul

　　docmem

　　存盤以后再利用優(yōu)盤來(lái)引導(dǎo)系統(tǒng)，也可以達(dá)到同樣的目地。）

　　戴爾筆記本系統(tǒng)在引導(dǎo)盤的引導(dǎo)下進(jìn)入內(nèi)存檢測(cè)程序以后，DocMem程序共有兩種檢測(cè)模式：Burn-in Test檢測(cè)和Quick Test檢測(cè)，Burn-in Test測(cè)試模式會(huì)對(duì)戴爾筆記本內(nèi)存進(jìn)行反復(fù)的多輪測(cè)試，而Quick Test檢測(cè)則只進(jìn)行一次測(cè)試。一般情況下我們直接按回車鍵選擇Burn-in Test就可以了。此時(shí)程序會(huì)對(duì)戴爾筆記本內(nèi)存進(jìn)行一系列的內(nèi)存測(cè)試，當(dāng)程序檢測(cè)到戴爾筆記本內(nèi)存出現(xiàn)錯(cuò)誤時(shí)，會(huì)將錯(cuò)誤的戴爾筆記本內(nèi)存地址顯示出來(lái)，同時(shí)利用戴爾筆記本的PC喇叭進(jìn)行報(bào)警。通常運(yùn)行30分鐘左右的Burn-in Test,就可以檢測(cè)出戴爾筆記本內(nèi)存可能存在的問(wèn)題。

　　有時(shí)候通過(guò)軟件檢測(cè)出戴爾筆記本內(nèi)存出現(xiàn)問(wèn)題，或者發(fā)生系統(tǒng)運(yùn)行不穩(wěn)定、死機(jī)等故障，可能并不是新增加的戴爾筆記本內(nèi)存本身存在質(zhì)量問(wèn)題，也有可能是與戴爾筆記本上原有的舊內(nèi)存“混插”而發(fā)生的不兼容現(xiàn)象，這是由于有很多主板對(duì)兩條速度相差較大的戴爾筆記本內(nèi)存的支持不太好，如果通過(guò)更換其它的內(nèi)存也無(wú)法解決這種問(wèn)題，我們就只能忍痛舍棄舊的戴爾筆記本內(nèi)存，以保證新內(nèi)存的正常工作。

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